本試驗程序的目的是在盡可能合理的經(jīng)費和時間內(nèi)確定組件的電性能和熱性能，表明組件能夠在規(guī)定的氣候條件下長期使用。通過此實驗的組件的實際使用壽命期望值將取決于組件的設計以及它們使用的環(huán)境和條件。

      溫度系數(shù)測量的目的：

      從組件試驗中測量其電流溫度系數(shù)α和電壓溫度系數(shù)β。如此測定的溫度系數(shù)，僅在測試中所用的輻照度下有效；對于線性組件，在此輻照度±30%內(nèi)是有效的。GB/T 6495.4-1996 規(guī)定了從具有代表性一批中的單體電池測量這些系數(shù)，本方法是對這一標準的的補充。薄膜電池組件的溫度系數(shù)依賴于輻照及組件所經(jīng)歷的熱處理過程。當涉及溫度系數(shù)時，熱試驗時的條件及輻照結(jié)果等過程情況均應標明。

      溫度系數(shù)測量程序：

      1、在室溫和需要的輻照度下，用GB/T 6495.1-1996 的方法測量組件的短路電流。

      2、將組件安裝在試驗室中，在試驗室外但仍在模擬器光照中安裝一適當?shù)妮椪斩缺O(jiān)測儀。連接好儀器。

      3、關(guān)閉試驗室，設定好輻照度，使試驗組件的短路電流達步驟a的值，并用輻照度監(jiān)測儀使其在整個過程維持同一水平。

      4、將組件加熱至所考核的最高溫度，關(guān)掉加熱器，讓其平穩(wěn)地冷卻。

      5、在組件冷卻過程中，在至少30℃所考核的溫度范圍內(nèi)，每隔5℃測量一次短路電流和開路電壓。

      本方法的原理是在相同的輻照度、環(huán)境溫度和風速條件下比較標準參考平板和試驗組件的溫度。在標準參考環(huán)境下參考平板的穩(wěn)態(tài)溫度由10.5.3所描述的基本方法測定。

      先把試驗組件和參考平板的溫度差修正到標準參考環(huán)境，再將此值加上標準參考環(huán)境下參考平板的平均穩(wěn)態(tài)溫度，即得到試驗組件的標稱工作溫度。實驗已證明，溫度差對輻照度的漲落、環(huán)境溫度和風速的小的變化不敏感。